芯片量产测试、FT测试

• 测试平台选型及程序开发：V93K、Ultra flex、J750HD、STS8205、STS6100等 ；
• 测试硬件设计与制作：loadboard、changkit、socket、PCB等 ；
• FT/CP工程化导入与量产 ；
• IC验证与参数特性分析 ；
• 量产维护与良率提升 ；
• HTOL开发与试验；

芯片量产测试依据：

• GB、 GJB、JESD、JEDEC、芯片规格书、用户测试方案。

FT测试

        ATE自动测试系统，用于测试集成电路功能、直流参数和交流参数的测试设备，检测被测器件参数和性能指标是否满足规范。

测试内容：包含功能测试和DC&AC电参数测试 。

• Open/Short: 检查芯片引脚中是否有开路或短路。
• Function test: Test mode测试芯片的逻辑功能。
• Mixed Signal: 验证数模混合电路的功能及性能参数。
• DC test: 验证器件直流电流和电压参数。
• AC test: 验证交流规格，包括交流输出信号的质量和信号时序参数。
• Eflash: 测试内嵌flash的功能及性能，包含读写擦除动
• 作及功耗和速度等各种参数。
• RF test: 测试芯片里面RF模块的功能及性能参数。

覆盖芯片类型：

• CPU、MCU、DSP；FPGA、CPLD，Sram、flash、dram、eprom、eeprom、fifo 、模拟、数模混合电路、AD/DA、运放等。