热物性显微镜 TM3B主要是测量热物性值中热渗透率的一种设备,可以进行微小领域(微米等级)和纳米薄膜等的测量。
热物性显微镜TM3B的优势:
・ 热物性显微镜是测量热物性值中热渗透率的一种设备;
・ 可以通过点、线、面测量样品的热物性;
・ 可测量微米等级的热物性值的分布;
・ 全球首个非接触方式且高分辨率的热物性测量设备;
・ 检测光点径3μm、高分辨率来测量微小领域的热物性(点、线、面 测量);
・ 可改变深度范围进行测量,从薄膜、多层膜到散装材料都可测量;
・ 基板上的样品也可测量;
・ 激光非接触式测量;
・ 可检测薄膜下的裂纹、孔隙、脱落等问题。
微小领域(微米等级)、纳米薄膜、Sic(单晶体、多晶体)、AIN等的测量。
主要规格 |
|
名称/商品名 |
热物性显微镜/Thermal Microscope |
测量模式 |
热物理性分布测量 (1次元・2次元・1点) |
测量项目 |
热渗透率、(热扩散率)、(热传导率) |
检测光点径 |
约3μm |
1点测量标准时间 |
10秒 |
测量对象薄膜 |
厚度 数百nm~数十μm |
重复精度 |
耐热玻璃、硅的热渗透率±10%以内 |
样品 |
・样品支架 30mm×30mm,厚度5mm,样品表面的镜面需要研磨 |
・板状样品30mm×30mm以内,厚度3mm以内,样品表面需Mo溅镀 |
|
使用温度范围 |
24℃±1℃(根据设备内部温度感应器) |
平台移动距离 |
・X轴方向20mm ・Y轴方向20mm ・Z轴方向10mm |
加热用激光 |
半导体激光波长:808nm |
检测用激光 |
半导体激光波长:658nm |
电源 |
AC 100V~1.5kVA |
标准配件 |
样品支架、基准样品 |
*选项 |
光学平台、空调机、空调用booth、spatter装置 |
本体 |
外形尺寸:730(W) x 620(D) x 560(H)mm 重量:80.0Kg |
电源箱 |
外形尺寸:620(W) x 480(D) x 310(H)mm 重量:26.4Kg |
- 公司类型私营有限责任公司
- 经营模式经销商-私营有限责任公司
- 联系人黄小姐
- 联系手机17704067205
- 联系固话0755-23054661
- 公司地址深圳市宝安区西乡街道固戍二路新园工业区15号301
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