1、块体用FIB制样，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；无挥发性，固体、块体长宽小于20mm，高度小于4mm。纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；

2、样品要求导电性良好，如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。

3、透射样品制备只保证切出的样品厚度可以拍透射。

4. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性。

1. fib切的透射薄片有孔或者部分脱落有影响吗？

切样的目的就是为了减薄样品，一些材质减薄后就会出现部分脱落，穿孔的现象，属于正常现象，有薄区，不影响透射拍摄即可，比如离子减薄制样就是要在材料上穿一个孔。

2.价格?

3.三维原子探针数据中的pole是怎么出现的，基于什么原理？

原子蒸发过程中低指数面脱落，由于是多个原子一起飞出，导致探测器无法识别，产生类似极图的分布。同时部分元素蒸发过程中在pole可能发生偏聚，所以某些元素的pole会很明显。

4.如何在三维原子探针采集数据过程中得到pole？

可以通过调整角度或位置获得想要的取向的pole。但不是所有材料都能有明显的pole。另外，pole的清晰程度跟设备的型号也有关系。