瑞典XCounter 双能探测器
产品描述 FX系列
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE FX系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
集成
XC-FLITE FX系列,通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在bbbbbbs XP、Vista、bbbbbbs7和bbbbbbs8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测(NDT)
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容bbbbbbs操作系统,从XP到bbbbbbs8
*绑定强大的可编程的开发软件
基本参数
物理参数 |
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尺寸 (L×W×H) |
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XC-FLITE FX1:23.1×13.1×6.0 cm |
温度控制 |
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内部的珀尔帖效应温度控制 |
环境温度 |
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+10 - +40℃ |
储藏温度 |
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-10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度 |
射线窗 |
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碳纤维, 厚500μm |
射线屏蔽 |
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根据应用 |
传感器 |
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传感器数量 |
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FX1:1 FX2:2 FX3:3 |
传感器类型 |
|
双能光子计数 CdTe-CMOS |
传感器厚度 |
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0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面积 |
|
FX1:154.7×12.8mm (1536×128像素) |
像素 |
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100μm |
像素填充率 |
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100% |
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性能 |
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帧率 |
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1000 fps(也可选择时间延迟求和模式) |
动态范围 |
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12 bits |
图像面元 |
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1×1,2×2,4×4 |
成像时间 |
|
100μs-5s |
DQE(0) |
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85%@RQA5 spectra |
MTF |
|
>80% @ 2lp/mm |
管KV范围 |
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15-250kVp |
内部测试图样 |
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Pseudo-random debug pattern |
外部触发输出 |
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3.3V TTL |
输入 |
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5V |
滞后 |
|
0% |
拖影 |
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<0.1% X射线开启后1分钟,(12μGy) |
分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off)
- 公司类型私营独资企业
- 经营模式贸易公司-私营独资企业
- 联系人王俊岩
- 联系手机13504113728
- 联系固话415-3850011
- 公司地址辽宁省丹东市新城区(辽宁仪表产业园区)文庆路70-34六楼西区
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