GWB－200JA型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762－92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。

结构特点及读数方式

1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。

2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内

筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其zui大量程25㎜；

zui小分度（游标分度）0.0002㎜；旋转外筒分度0.002㎜。

位移变化读数为：

L=（a+0.001b+0.0001c）-(a₀+0.001b₀+0.001c₀)

其中：a－内筒毫米刻线读数

b－外筒刻线读数

c－游标刻线读数

a₀ b₀ c₀为相应位移变化前读数

精密微分筒

二、各项技术精度指标

1、测量引伸计标距范围Ｌmax           500㎜

2、测量支座上支臂安装孔径        φ10；φ28

3、微分测头读数内筒轴向刻度       0.5㎜/格

4、微分测头读数内筒游标刻度    0.0002㎜/格

5、微分测头读数外筒园周刻度     0.002㎜/格

6、高精密微分测头精度指标

标定仪示值误差：

量程0.5㎜以内≤0.5μm    绝对误差

量程0.5㎜以上≤0.10%     逐点相对误差

参照标准：

JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范

ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定

JJG762-1992  引伸计检定规程

可进行0.5级引伸计的标定