可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV

陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验

可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV

产品简介

1. 该测试仪电路主要分为控制电路和高压电路两部分。测试仪接通电源后，由电子调压器调整高压变压器的输出，经整流及正反向转换后，产生频率为50HZ、底宽10mS的正弦半波电压施加到被测器件两端，同时电压经衰减后反馈到控制电路，经运放采样电路整定后输入单片机，由单片机抓取峰值并显示，漏电流由回路中的标准取样电阻取得，经运放采样电路后输入单片机，由液晶屏显示。

2. 被测元件达到电压或电流设定值，单片机输出低电平信号，电子调压器回零，切断主电路中的固态继电器，使其关断，高压及被测元件失电，从而起到保护元件的作用。

陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验

可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV

基础信息

1. 测试对象：晶闸管、双向晶闸管、整流二极管、桥堆

2. 测试参数：VDRM、VRRM、IDRM、IRRMVRRM、IRRM

3. 测试标准：《反向阻断晶闸管测试方法》（JB/T7626-2013）

4. 操控方式：单片机程控，结果和曲线触摸屏显示，U盘可拷贝

5. 产品结构：台式单机，程控操作，电压及漏电自保护

陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验

可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV

性能指标

断态及反向重复峰值电压（VDRM、VRRM）

1. 调节范围：0～5.00kV连续可调

2. 控制精度范围：0.50～5.00kV

3. 分辨率0.01kV，精度±3%

断态及反向重复峰值漏电流（IDRM、IRRM）

1. 测试范围：0～100.0mA

2. 分辨率0.1mA，精度±3%±0.2mA

3. 电压波形：正弦半波

4. 测试频率：50Hz/5Hz

5. 测试数据显示方式：液晶屏

6. 测试方式：自动

陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验

可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV

可控硅阻断特性测试仪SCRD5KV

陕西天士立科技有限公司

专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验