应用

  □ 半导体测试
  □ 确定阻抗和串扰特点 (使用TDR)
  □ 高速数字数据通信

  介绍

  TDS8000B 数字取样示波器在超高带宽示波器提供了广泛的机载测量和波形处理功能。TDS8000B 具有杰出测量重复度、极高的垂直分辨率、快速波形采集和显示更新速率，为半导体测试、确定电路板的TDR 特点、IC 包装和电缆及高速数字通信测试提供了强大的测量工具。

  新的波形采集技术
  TDS8000B 系列新的时基提供了从1.0ps/div 到5 ms/div 的等时扫描速度，记录长度从20 点到4000 点，取样间隔为10 飞秒(0.01 ps)。此外，8000 系列取样示波器的时基可以锁定在10 MHz 参考时基，提供了更长时期的稳定性。
  这种功能还允许多台TDS8000B 与其它测试设备和/或被测器件同步化。TDS8000B提供了两个放大窗口，因此可以以更高的分辨率重新采集主要轨迹的各个部分，更进一步查看信号细节。
  TDS8000B 取样示波器提供了的取样速率。它采用多处理器结构，每条通道都采用专用的数字信号处理器(DSP)，保障的波形采集速率，而不管采集的通道数量或完成的波形处理。

  模块化和灵活性
  TDS8000 支持庞大、而且在不断增长的一系列电和光插入模块。通过这一模块化结构，用户可以在现在和将来，根据自己的应用为仪器配置适当的特性。
  电插件包括各种模块，这些模块的带宽可达50 GHz ，具有确定阻抗和串扰特点使用的TDR 等专用特性。泰克还提供了高带宽探头，以构建整体采集解决方案。
  光模块为电信应用(155 Mb/s - 43 Gb/s)和数据通信应用(光纤通道、InfiniBand 和千兆位以太网)及通用光信号测试提供了完整的光通信测试解决方案。

  无可比拟的TDR 功能

  通过80E04 TDR 取样模块，TDS8000B 在多八条通道上同时提供了无可比拟的TDR 性能。每条通道都带一个独立的偏振可选的步进发生器，提供了无可比拟的35 ps 的反射上升时间*2 。TDS8000B 提供了当前市场真正的差动TDR 系统。对步进振幅和基线偏移偏差的自动透明校正功能，保证了阻抗测量的和重复度。
*2 从短电路上观察的反射上升时间。

  TDS8000 系列取样示波器平台
  TDS8000B 基于泰克的取样示波器平台，它不仅提供了用户熟悉的基于M SMindows 的PC 技术，还提供了世界一流的波形采集技术。
  这一平台提供了广泛的一系列标准仪器和通信接口(如GPIB 、并行打印机端口、RS-232-C 和USB 串口和以太网局域网连接)。此外，该平台包括多个海量存储设备(软盘、可拆卸硬驱和光盘)。
  TDS8000B 配有一个大型全彩色显示器，可以帮助您区分波形细节。颜色渐变的波形数据可以在信号采集和分析中从第三个角度了解波形，即样本密度。
  泰克还作为选件提供了选通触发功能，允许从被测的时期中排除选定的时间。
  由于系统支持开放的MS Windows 环境，因此可以使用市场上提供的商用软件，直接在仪器中完成全新的数据分析。
  此外，标准软件功能TekVISA TM 允许仪器处于仪器上运行的或连接仪器的外部PC工作站网络上运行的应用软件的控制之下(如LabView, LabWindows, Visual Basic,Microsoft Excel, C 等等)，而不需GPIB 硬件接口。泰克还提供了LabView 和其它程序使用的即插即用的驱动程序。

泰克TDS8000 系列取样示波器电模块
  80E01 取样模块－80E01 是一种单通道，50 GHz 带宽的取样模块。80E01 具50 GHz或更高的被测带宽及小于等于7.0 ps 的计算上升时间。显示的噪声一般为1.8mV RMS 。前面板连接器采用2.4mm 插座，并提供了一个适配器(011-0157-00; 2.4 mm 插头到2.92 mm 插座)，以保持兼容SMA 连接器
  80E02 低噪声取样模块－80E02 是一种为数字通信和设备测试应用中低噪声测量专门设计的双通道、12.5 GHz 取样模块。它提供了28 ps 的采集上升时间和400mV RMS的典型显示噪声。80E02 为低噪声应用提供了理想的仪器。80E02 的常见应用是捕获和显示高速通信电路的交换特点，它可以地统计测量信号噪声和信号定时抖动，或获得快速数字IC 的稳定定时指
  80E03 取样模块－80E03 是一种双通道20GHz 取样模块。这一取样模块提供了小于等于17.5 ps 的采集上升时间。
  80E04 TDR 取样模块－80E04 是一种具有TDR 功能的双通道20 GHz 取样模块。这一取样模块提供了小于等于17.5 ps 的采集上升时间及20 GHz 的典型同等带宽。TDR功能提供了高分辨率及真正的差动功能。
80E06 取样模块－80E06 是一种单通道，70 GHz 带宽的取样模块，是目前世界上带宽的数字采样模块。

泰克TDS8000 系列取样示波器光模块
  80C01 多速率电信取样模块 －80C01 模块支持对622 、2488 和9953 Mb/s 速率的长波长 (1100 - 1650 nm) 信号进行波形一致性测试，及以高达20 GHz 的光带宽进行通用测试。在配备时钟恢复选件时，80C01 为622 和2488 Mb/s 电信应用提供了完整的测试解决方案。
  80C02 高性能电信取样模块－80C02 模块是为了测试9.953 Gb/s(SONET OC-192/SDHSTM-64)速率的长波长(1100 to 1650 nm)信号而优化的。由于28 GHz 或更高的高光接口带宽，它还特别适合执行通用的高性能光器件测试。80C02 可以选配支持9.953 Gb/s 电信标准的时钟恢复功能。
  80C03 多速率高灵敏度数据通信取样模块－80C03 模块支持对速率为1.063, 1.250和2.488 Mb/s 的短波长和长波长(700-1650 nm)信号执行波形一致性测试，同时支持以高达2.3 GHz 光带宽执行通用测试。其放大光电转换器设计，允许用户检查极低层的光信号。80C03 可以选配支持光纤通道1063 (1.063 Gb/s)、千兆位以太网(1.250 Gb/s)和OC-48/STM-16 (2.488 Gb/s)标准的时钟恢复功能。
  80C04 具有前向纠错功能的高性能电信取样模块－80C04 模块是为测试9.953Gb/s 或10.664 Gb/s 速率的长波长(1100 -1650nm)信号而优化的。由于其28 GHz 或更高的高光带宽，它还特别适合通用的高性能光器件测试。80C04 可以选配支持9.953 Gb/s 电信标准的时钟恢复功能或9.953 Gb/s 和10.664 Gb/s 双速率时钟恢复功能。
80C05 40 GHz 光取样模块－80C05 模块是为测试40 Gb/s 及以下速率的长波长(nm)电信信号而优化的。80C05 提供了可以选择的带宽，允许用户选择优的噪声和带宽性能，地确定信号的特点。由于其高光通信带宽(40 GHz)，它还特别适合进行通用的高性能光器件测试。
  80C06 50 GHz 光取样模块－80C06 模块是为测试长波长(nm)高功率、高带宽光信号而优化的，其一般是40 Gb/sNRZ 和RZ 系统传输测试。由于其高光通信带宽(50 GHz)，它还特别适合进行通用的高性能光器件测试。
  80C07B 多速率电信光取样模块－80C07 模块是支持一系列波长(700 - 1650 nm)，为测试155.52 - 2488.32 Mb/s 电信信号而优化的多速率光取样模块。由于其放大光电转换器设计，这一模块提供了完美的信噪比性能，允许用户检查低功率光信号。80C07 可以选配支持155,622 和2488Mb/s 速率的时钟恢复功能。
  80C08C 10 GbE 数据通信光取样模块－80C08 模块是支持一系列波长(700 - 1650nm)的光取样模块，为10.3125 Gb/s (10 GBASE-R)或9.95328 Gb/s(10 G BASE-W)速率的10 GbE 应用提供了完整的测试解决方案。由于其放大光电转换器设计，这一模块提供了完美的信噪比性能和极高的光灵敏度，允许用户检查低功率光信号。80C08 可以选配支持9.953 Gb/s 和10.3125Gb/s 速率的时钟恢复功能。
  80C09 具有G.709 前向纠错功能的高性能电信光取样模块－80C09 模块是为测试9.953 Gb/s 或10.709 Gb/s 速率的长波长(1100 - 1650 nm)信号而优化的。由于其28 GHz 或更高的高光带宽，它特别适合进行通用的高性能光器件测试。80C09 可以选配支持9.953 和10.709 Gb/s 速率的时钟恢复功能。