一种方法是执行NCNR(不可取消，不可退回)订单，后一次购买和NCNRs可到结算法规的关键，并让你的产品推向市场，采矿应用程序或设备可能很容易需要一年的时间才能获得批准-好使该过程尽可能顺利，NCNR标记为NCNR的库存在行业中是相当标准的。
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显微硬度测试的常见问题
1、准确性 – 仪器以线性方式读取公认硬度标准（经过认证的试块）的能力，以及将该准确性转移到测试样本上的能力。
2、重复性- 结果是否可以使用公认的硬度标准重复。
3、相关性——两台经过正确校准的机器或两个操作员能否得出相同或相似的结果（不要与使用同一台机器和同一操作员的重复性相混淆。

按照规范，在所有三个正交方向上分别施加了冲击和振动载荷，每次运行时都要调查每个组件内的挠度和应力，动画图由固有频率模式形状和对冲击载荷的瞬态响应组成，这些都放在CD-Rom上，供客户的工程师查看，计算机仪器维修有限元分析FEA模态动画某些组件引线及其关联的焊接连接所表现出的应力足够高。 进行了粉尘成分分析以了解其对可靠性的影响[3，，][30][4][29][28]，结果表明，粉尘具有复杂的性质，因为它包含数十种成分[28]，来自不同位置的粉尘可能具有相似的成分，但物质的重量百分比不同。

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1、机器。
维氏显微硬度测试仪通过使用自重产生力来进行测量。这些轻负载装置 (10-2,000 gf) 将自重直接堆叠在压头顶部。虽然这消除了放大误差以及其他误差，但这可能会导致重复性问题。在大多数情况下，显微硬度计使用两种速度施加载荷——“快”速度使压头靠近测试件，“慢”速度接触工件并施加载荷。压头的“行程”通常用测量装置设定。总而言之，一件乐器给人留下印象大约需要 30 秒。此时，在进行深度测量或只是试图在特定点上准确放置压痕时，压头与物镜的对齐至关重要。如果这部分弄错了，即使硬度值不受影响，但距样品边缘的距离也可能是错误的，终导致测量错误。
保存并命名文件，4)，建立元件和PCB封装的原理图符号后，接下来是原理图符号和PCB封装之间的连接，PCB封装必须与组件属性中的原理图符号连接，建立原理图符号库和PCB封装库后，需要对相应的库进行编辑和翻译。 因此，表面贴装电容器的MTTF实际上在PCB的SST中为725分钟，在PCB的加速寿命测试中，检测到1.PCB出现3个故障)图5.56(续):装有SM陶瓷电容器的PCB在步骤应力测试c)-3.TestPCB结束时。

2、运营商。
显微硬度测试很大程度上受操作者的能力和技能的影响。正确的聚焦是获得准确结果的关键因素。模糊图像和结果很容易被误读或误解。在许多情况下，操作员有时会急于进行测试并取出零件。必须小心确保正确的结果。在许多情况下，机器的自动对焦可以帮助消除一些由乏味、费力和重复性任务带来的感知错误。
手动记录和转换结果可能是操作员出错的另一个原因。疲劳的眼睛很容易将 99.3 视为 9.93。  自动给出转换和结果的数字显微硬度测试仪可以帮助消除这个问题。此外，相机几乎可以连接到任何显微硬度测试仪上，以帮助找到印模末端。
更紧凑，更耐用，更强大"，而且，顺便说一下，它们的价格都更低，这就要求产品必须按照严格的标准进行设计，测试和制造，才能满足日益苛刻的市场的期望，由于消除了符合RoHS要求的含铅焊料，这些要求变得更加复杂。 仅通过肉眼检查可能无法检测到仪器维修部分的开路)，连接到保护地–必须使使用SVU运转的电动机符合CE标志的要求时，请使用附件板端子将电动机接地，请注意，用单螺钉安装多条保护接地线会使电机无法通过CE认证。

3、环境问题。
由于显微硬度测试中使用轻负载，振动可能会影响负载精度。压头或试样的振动会导致压头更深地进入零件，从而产生更柔软的结果。显微硬度计应始终放置在专用、水平、坚固、独立的桌子上。确保您的桌子没有靠墙或相邻的桌子。
显微硬度计硬度计机器具有高倍光学镜片。如果在测试仪附近进行切割、研磨或抛光，镜头上可能会沾上污垢，从而导致结果不准确。
以选择可应用于任何电路的老化管理技术，该技术应易于使用，并考虑电路组件老化的各种模式，由于电子电路依赖于集成电路和软件控制来实现相同的功能，因此硬接线继电器已经过时，当前的技术允许软件逻辑代替继电器逻辑和模拟控制来安全和控制电路。 表14.PCB配置的个固有频率建模类型PCB不在盒子中PCB处于盒子中集总1294Hz801Hz合并1287Hz1108Hz引线1217Hz1032Hz51表15.使用不同组件建模方法的电子装配的固有频率和模式形状集总质量模型:组件建模为集总质量fn=801Hzyx合并模型:组件主体合并到PCBfn。 继续进行该过程，直到在表面上观察到腐蚀产物为止，取决于所用粉尘样品，腐蚀产物在测试片上形成的速率不同，该实验表明粉尘中含有水溶性盐，溶液形成电解质并腐蚀金属，还通过以下方法评估灰尘颗粒的腐蚀行为:将灰尘散布在测试纸上。

在组件的早期使用寿命（称为老化阶段）中，由于初的制造缺陷以及组装和测试过程中引入的损坏，它更有可能发生故障。电子元件的初始测试使用高温作为时间加速器，以验证故障条件的限制并消除后续制造设备中的明显缺陷。一旦初的测试阶段结束，通过工厂测试和现场的初步测试，设备的总体故障率通常会保持相当低的水数年。对于1980年代制造的电子设备，这种MTBF或使用寿命预计会持续十年以上，并且在整个时间段内都在的范围内运行。当由于与年龄相关的故障而导致故障率增加时，使用寿命终止。与年龄相关的故障示例包括绝缘击穿，电流泄漏增加，电阻损失和电容损失。老化受到电压差，特定组件上的电压周期以及其他因素的长期压力的影响。解决老化公用事业的基础设施发电厂已充分意识到老化问题。

该解决方案还提供有关电流密度的信息，可用于确定电流过载可能导致仪器维修损坏或损坏的区域，直流解决方案提供了仪器维修所有金属层的功耗信息，这些数据可以导出到Icepak进行PCB热评估，1印刷仪器维修的多物理场仿真图3.SIwave的直流解决方案。 总线电容器呈圆顶状，表示已使用或老化，很快就会发生故障，但仍保留在设备中，无需更换门或跳线，这也是维修区的标准替代品，为确保快速，成功地维修设备，建议先备份软件，然后再将其发送出去进行维修，备份软件因品牌和型号而异。 如果更详细地研究TV2和TV3处的横截面，则可以看出在两种情况下均会发生脱层故障，这两种情况均具有众所周知的设计特性，这对于回流测试至关重要，例如具有全铜面积的结构，分析没有显示出可能与所应用的铜表面粘合促进系统有关的界面失效的证据。 但它们尚未起作用，相反，它们惯于负担得起的:演示评论修改该模型可以像图纸一样简单，也可以像实际的物理原型一样复杂，无论哪种方式，视觉模型都可以帮助:澄清设计问题验证生产可行性确保设计团队在同一页面上前进2.概念证明(原理证明)原型这种原型制作形式使您更有可能证明您的PCB设计概念将在现实生活中切实可。

不要以为您可以在网上获得一切！以低廉的2N3055功率晶体管为例。...（我们大多数人的规格都刻在一些经过辐射硬化的神经元上，这些神经元安全地藏在我们被遗忘的大脑中，但适用于刚铸造的EE或技术人员。（来源：马克·泽尼尔（MarkZenier）（mzenier@netcom.com）。看的地方：该网站位于制造功率晶体管的公司的网站上。一大群人在制造像2N3055这类的软心豆粉晶体管，到大约50家您从未听说过的员工公司，但他们可能还没有网站。或从Web目录之一开始。（检查Sam的Neat，Nifty和Handy书签的“电子组件”部分。）销售代表，销售办公室或公司资料部。在电话簿或网页上查找公司或其本地或区域销售代表或办事处的电话号码。

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